X射線測厚儀是基于射線通過物質時,透過的射線強度,隨物質的厚度不同而改變的原理制成的非接觸、透射式厚度測量裝置。美國博曼BA100,博曼膜厚測試儀高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等,測量厚度可以至微米(um),微英寸(u”),
美國BOWMAN(博曼)X射線膜厚測試儀
![]() |
美國BOWMAN(博曼)X射線膜厚測試儀
產品屬性
詳細信息 X射線測厚儀是基于射線通過物質時,透過的射線強度,隨物質的厚度不同而改變的原理制成的非接觸、透射式厚度測量裝置。美國博曼BA100,博曼膜厚測試儀高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等,測量厚度可以至微米(um),微英寸(u”), 相關產品 共0條 相關評論 ![]() |